标题 |
Impurity Gettering in Polycrystalline‐Silicon Based Passivating Contacts—The Role of Oxide Stoichiometry and Pinholes
多晶硅基钝化触点中杂质的吸杂——氧化物化学计量和针孔的作用
相关领域
材料科学
吸气剂
杂质
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钝化
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期刊:Advanced Energy Materials 作者:Zhongshu Yang; Jan Krügener; Frank Feldmann; Jana-Isabelle Polzin; Bernd Steinhauser; et al 出版日期:2022-05-01 |
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