标题 |
Process and device modeling for VISI
面向VISI的工艺和设备建模
相关领域
离散化
过程(计算)
计算机科学
基础(线性代数)
物理系统
偏微分方程
简单(哲学)
比例(比率)
工业工程
应用数学
数学优化
算法
数学
工程类
物理
数学分析
量子力学
认识论
操作系统
哲学
几何学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:S. Selberherr 出版日期:1984-01-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|