标题 |
Corrigendum to: “XPS study of sputtered alumina thin films” [Ceram. Int. 40 (2014) 11099–11107]
勘误表:“溅射氧化铝薄膜的XPS研究”[Ceram.Int.40(2014)11099-11107]
相关领域
材料科学
X射线光电子能谱
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期刊:Ceramics International 作者:I. Neelakanta Reddy; Parthasarathi Bera; V. Rajagopal Reddy; N. Sridhara; Arjun Dey; et al 出版日期:2014-10-27 |
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