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Electrical properties of low pressure chemical vapor deposited silicon nitride thin films for temperatures up to 650 °C
低压化学气相沉积氮化硅薄膜在高达650℃温度下的电性能
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Roald M. Tiggelaar; A.W. Groenland; R. G. P. Sanders; Han Gardeniers 出版日期:2009-02-01 |
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