标题 |
Study of Metal–Dielectric Interface for Improving Electrical Properties and Reliability of DRAM Capacitor
提高DRAM电容器电性能和可靠性的金属-介质界面研究
相关领域
材料科学
德拉姆
电容器
电介质
泄漏(经济)
动态随机存取存储器
光电子学
电气工程
电压
工程类
宏观经济学
半导体存储器
经济
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期刊:Advanced materials and technologies 作者:Hanjin Lim; Jae Hyoung Choi; Gihee Cho; Jaewan Chang; Younsoo Kim; et al 出版日期:2022-07-10 |
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