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Device Performances Related to Gate Leakage Current in Al2O3/AlGaN/GaN MISHFETs
Al2O3/AlGaN/GaN MISHFET中与栅极漏电流相关的器件性能
相关领域
材料科学
光电子学
泄漏(经济)
量子隧道
分析化学(期刊)
化学
色谱法
宏观经济学
经济
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期刊:JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science 作者:Do-Kywn Kim; V. Sindhuri; Dong-Seok Kim; Young-Woo Jo; Hee-Sung Kang; et al 出版日期:2014-11-29 |
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