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 Online monitoring method for chip pin with minor deformation defects based on depth-histogram modalities and target-oriented multimodal self-attention mechanism 基于深度直方图模态和面向目标的多模态自注意机制的芯片引脚小变形缺陷在线监测方法
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期刊：Journal of Manufacturing Processes 作者：Changdu Du; Lei Xu; Jun Chen; Nachuan He 出版日期：2024-10-01 |
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