标题 |
Side-Gated In2 O3 Nanowire Ferroelectric FETs for High-Performance Nonvolatile Memory Applications
用于高性能非易失性存储器应用的侧栅In2 O3纳米线铁电场效应晶体管
相关领域
纳米线
非易失性存储器
铁电性
材料科学
光电子学
纳米技术
电介质
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DOI | |
其它 |
期刊:Advanced Science 作者:Meng Su; Zhenyu Yang; Lei Liao; Xuming Zou; Johnny C. Ho; et al 出版日期:2016-04-15 |
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