标题 |
Enhanced detection accuracy and signal-to-noise ratio of surface plasmon resonance based refractive index sensor with the addition of thicker layer of Silicon
增加厚硅层提高表面等离子体共振折射率传感器的检测精度和信噪比
相关领域
表面等离子共振
折射率
材料科学
功勋
硅
表面等离子体子
电介质
光电子学
光学
等离子体子
纳米技术
物理
纳米颗粒
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DOI | |
其它 |
期刊:Optical Materials 作者:Himanshu Kushwah; Jagneet Kaur Anand 出版日期:2023-05-17 |
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