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The environmental stability characterization of exfoliated few-layer CrXTe3 (X = Si, Ge) nanosheets
剥离的几层CrXTe3(X=Si,Ge)纳米片的环境稳定性表征
相关领域
材料科学
无定形固体
拉曼光谱
图层(电子)
范德瓦尔斯力
纳米技术
表面粗糙度
化学工程
化学
光学
结晶学
复合材料
分子
物理
工程类
有机化学
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期刊:Applied surface science 作者:Yun Liu; Wei Wang; Haoyong Lu; Qingguo Xie; Limin Chen; et al 出版日期:2020-05-01 |
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