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 Structural Study of Amorphous SiGe Alloy Films Using Extended X-Ray Absorption Fine Structure 利用扩展X射线吸收精细结构研究非晶SiGe合金薄膜的结构
相关领域
扩展X射线吸收精细结构
材料科学
无定形固体
氧烷
退火（玻璃）
合金
溅射
X射线吸收精细结构
辉光放电
分析化学（期刊）
光电子学
吸收光谱法
薄膜
结晶学
光学
谱线
光谱学
纳米技术
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化学
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量子力学
天文
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期刊：Journal of the Physical Society of Japan 作者：Masatoshi Wakagi; Toshiyuki Ohno; Mitsuo Chigasaki; Masaharu Nomura 出版日期：1987-07-15 |
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