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Direct Analysis of Si, SiC and GaN Wafers by LA-GED-MSAG-ICP-MS
LA-GED-MSAG-ICP-MS直接分析Si、SiC和GaN晶片
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期刊:Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena/Solid state phenomena 作者:Koshi Suzuki; Tatsu Ichinose; Katsu Kawabata 出版日期:2023-08-14 |
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