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Oxygen Defect Stability in Amorphous, C-Axis Aligned, and Spinel IGZO
非晶、C轴取向和尖晶石IGZO中氧缺陷的稳定性
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期刊:ACS applied electronic materials 作者:Michiel van Setten; Harold Dekkers; Luka Kljucar; Jerome Mitard; Christopher Pashartis; et al 出版日期:2021-09-28 |
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