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Hydrogen Diffusion and Threshold Voltage Shifts in Top-Gate Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistors
顶栅非晶InGaZnO薄膜晶体管中的氢扩散和阈值电压漂移
相关领域
薄膜晶体管
阈值电压
材料科学
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氢
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Hong-Chih Chen; Jianjie Chen; Kuan‐Ju Zhou; Guan-Fu Chen; Chang‐Hung Kuo; et al 出版日期:2020-08-01 |
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