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 Characterization of planar flaws by an integrated approach using phased array and synthetic aperture focusing technique 基于相控阵和合成孔径聚焦技术的平面缺陷表征
相关领域
相控阵
平面的
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表征（材料科学）
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期刊：Measurement 作者：P.P. Nanekar; N. Jothilakshmi; Anish Kumar; T Jayakumar 出版日期：2019-07-24 |
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