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Observation of the failure mechanism in Ag10Ge15Te75-based memristor induced by ion transport
离子输运诱导Ag10Ge15Te75基忆阻器失效机理的观察
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期刊:Nano Research 作者:Yuwei Xiong; Kuibo Yin; Weiwei Sun; Jingcang Li; Shangyang Shang; et al 出版日期:2024-07-03 |
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