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![]() ZrO2/High-k/ZrO2绝缘多层中的高k夹层对DRAM电容器电学性能的影响
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期刊:ECS Transactions 作者:Takashi Onaya; Toshihide Nabatame; Tomomi Sawada; Kazunori Kurishima; Naomi Sawamoto; et al 出版日期:2016-08-18 |
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