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Investigation of Infrared Photo-Detection Through Subgap Density-of-States in a-InGaZnO Thin-Film Transistors
a-InGaZnO薄膜晶体管亚间隙态密度红外光检测的研究
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Heesung Lee; Junyeap Kim; Jaewon Kim; Seong Kwang Kim; Yongwoo Lee; et al 出版日期:2017-05-01 |
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