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 Probing charge density in materials with atomic resolution in real space 在实空间用原子分辨率探测材料中的电荷密度
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材料科学
光学（聚焦）
分辨率（逻辑）
纳米尺度
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物理
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扫描透射电子显微镜
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基本粒子
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期刊：Nature Reviews Physics 作者：Christopher Addiego; Wenpei Gao; Huaixun Huyan; Xiaoqing Pan 出版日期：2022-12-09 |
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