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In situ grazing incidence synchrotron x-ray diffraction studies on the wakeup effect in ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2 thin films 铁电Hf0.5Zr 0.5 O2薄膜中唤醒效应的原位掠入射同步辐射x射线衍射研究
相关领域
同步加速器
铁电性
原位
材料科学
衍射
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薄膜
光学
光电子学
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Dante Ahn; Gopinathan Anoop; Jun Young Lee; Youngin Goh; WooJun Seol; et al 出版日期:2024-07-15 |
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