标题 |
Internal defect detection method based on dual-channel speckle interferometry
基于双通道散斑干涉的内部缺陷检测方法
相关领域
单色
剪切照相
斑点图案
光学
干涉测量
电子散斑干涉技术
散斑成像
频道(广播)
相(物质)
材料科学
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电信
量子力学
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其它 |
期刊:Optics and Laser Technology 作者:Tianyu Yuan; Yinhang Ma; Xianzhong Dai; Xiaoyuan He; Fujun Yang 出版日期:2023-06-01 |
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