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![]() 金锡键合倒装芯片微发光二极管的性能和可靠性研究
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Luqiao Yin; Haojie Zhou; Xiaoxiao Ji; Jianxin Li; Kefeng Wang; et al 出版日期:2024-01-01 |
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