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Post-annealing effect of low temperature atomic layer deposited Al2O3 on the top gate IGZO TFT
低温原子层沉积Al2O3对顶栅IGZO TFT的后退火效应
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期刊:Nanotechnology 作者:Sulin Zheng; Shiquan Lv; Chengyuan Wang; Zhijun Li; Liwei Dong; et al 出版日期:2024-01-25 |
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