标题 |
A new framework for performance prediction of advanced MOSFETs with plasma-induced recess structure and latent defect site
具有等离子体诱导凹槽结构和潜在缺陷位点的先进MOSFET性能预测的新框架
相关领域
等离子体
MOSFET
过程(计算)
降级(电信)
材料科学
分子动力学
计算机科学
光电子学
电子工程
化学
计算化学
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物理
电气工程
电压
操作系统
量子力学
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期刊: 作者:Koji Eriguchi; Yoshinori Nakakubo; Asahiko Matsuda; Motohiro Kamei; Hiromichi Ohta; et al 出版日期:2008-12-01 |
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