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Electromigration reliability and activation energy of Bi2Te3 thermoelectric film
Bi2Te3热电薄膜的电迁移可靠性和活化能
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Chaojie Ren; Wei Zhu; Jie Zhou; Xue Wu; Yuan Deng 出版日期:2022-02-07 |
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