Monitoring Volumetric Changes in Silicon Thin-Film Anodes through In Situ Optical Diffraction Microscopy

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标题	Monitoring Volumetric Changes in Silicon Thin-Film Anodes through In Situ Optical Diffraction Microscopy 通过原位光学衍射显微镜监测硅薄膜阳极的体积变化相关领域材料科学硅衍射阳极光电子学薄膜电极纳米技术光学物理物理化学化学
网址	https://doi.org/10.1021/acsami.6b03822
DOI	10.1021/acsami.6b03822 doi
其它	期刊：ACS Applied Materials & Interfaces 作者：Jonathon Duay; Kjell W. Schroder; Sankaran Murugesan; Keith J. Stevenson 出版日期：2016-06-16
求助人	tfldog 在 2024-10-09 13:49:56 发布自福建，悬赏 10 积分
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