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 Machine learning based sinogram interpolation for X-ray computed tomography validated on experimental data 基于机器学习的X射线计算机断层扫描正弦图插值在实验数据上的验证
相关领域
插值（计算机图形学）
计算机科学
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期刊：Precision Engineering 作者：Simon Bellens; Patricio Guerrero; Michel Janssens; Patrick Vandewalle; Wim Dewulf 出版日期：2024-02-29 |
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