Research on Negative Bias Temperature Instability Effects Under the Coupling of Total Ionizing Dose Irradiation for PDSOI MOSFETs

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标题	Research on Negative Bias Temperature Instability Effects Under the Coupling of Total Ionizing Dose Irradiation for PDSOI MOSFETs 总电离剂量耦合下PDSOI MOSFETs负偏压温度不稳定性效应的研究相关领域负偏压温度不稳定性辐照材料科学阈值电压 MOSFET 光电子学绝缘体上的硅吸收剂量电离辐射压力（语言学）硅电压电气工程晶体管物理核物理学语言学哲学工程类
网址	https://ieeexplore.ieee.org/ielx7/6287639/9312710/09344657.p...
DOI	10.1109/access.2021.3056151 doi
其它	期刊：IEEE access 作者：Chao Peng; Rui Gao; Zhifeng Lei; Zhangang Zhang; Yiqiang Chen; et al 出版日期：2021-01-01
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