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![]() 二维层状材料中多长度尺度的不均匀性:从局域缺陷和掺杂剂到介观异质结构
相关领域
介观物理学
异质结
纳米技术
材料科学
掺杂剂
纳米尺度
限制
工程物理
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物理
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期刊:Nano Research 作者:Hui Cai; Yiling Yu; Yu‐Chuan Lin; Alexander A. Puretzky; David B. Geohegan; et al 出版日期:2020-09-11 |
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