Numerical analysis of destruction modes in IGBT chips

绝缘栅双极晶体管 串扰 GSM演进的增强数据速率 材料科学 炸薯条 光电子学 电子工程 电气工程 计算机科学 工程类 电压 电信
作者
U. Knipper,F. Pfirsch,T. Raker,J. Niedermeyr,G. Wachutka
出处
期刊:European Conference on Power Electronics and Applications 卷期号:: 1-4 被引量:3
链接
摘要

In IGBTs avalanche breakdown usually sets on in the edge termination structure. In consequence of electrical crosstalk, the destruction mechanism in very thin devices is confined to the neighboring cells in the active part of the chip. Thus, in order to achieve the largest possible safe-operating area, design optimization has to focus on the edge termination structure and the neighboring active cells in its vicinity.

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