RÉSUMÉUne image du capteur thématique, obtenue en avril 1990, a été utilisée pour mesurer le pourcentage de résidu de maïs dans des cultures situées dans le comté d'Oxford, en Ontario. Cette étude avait un double objectif: 1) établir la relation entre la réflectance spectrale et la surface occupée par les résidus de cultures de maïs; 2) élaborer et mettre à l'essai une méthode permettant de prévoir le pourcentage de recouvrement par des résidus à partir de la réflectance spectrale.Les résultats montrent qu'il existe une relation significative entre le pourcentage de la couverture du sol par des résidus de maïs et des variables liées à la réflectance. À l'aide d'un modèle linéaire simple utilisant l'indice d'activité végétale (NDI) formé du rapport du proche infrarouge sur l'infrarouge moyen, 65 pour cent (sols sablonneux), 86 pour cent (sols argileux), 92 pour cent (sols silteux) et 78 pour cent (toutes textures de sol confondues) des pixels ont été classifiés correctement dans l'une des trois catégories de résidus de cultures de maïs (0 à 20 pour cent, 21 à 45 pour cent et > 45 pour cent). L'ajout d'un deuxième NDI au modèle a permis d'augmenter à 72 pour cent la précision de la classification dans le cas des sols sablonneux. Lorsqu'on a réduit à deux catégories (0 à 20 pour cent et 21 à 100 pour cent) la couverture du sol par des résidus, on a ainsi accru la précision à plus de 90 pour cent. Pour toutes les valeurs obtenues, l'indice formé du rapport du proche infrarouge sur l'infrarouge moyen n'était pas sensible à la teneur des sols en matière organique, mais dépendait de la texture des sols.