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作者
Shun Tian,Chen Zou,Runchen Lai,Chungen Hsu,Xuhui Cao,Shiyu Xing,Baodan Zhao,Dawei Di
出处
期刊:Journal of Semiconductors
[IOP Publishing]
日期:2022-05-01
卷期号:43 (5): 050502-050502
被引量:6
标识
DOI:10.1088/1674-4926/43/5/050502
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