可靠性(半导体)
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量子力学
作者
Sungsun Baik,Seungyup Baek,T. Jung,Jin-Hyng Cho
出处
期刊:Saneopgyeong-yeongsiseutemhakoeji
[The Society of Korea Industrial and Systems Engineering]
日期:2013-06-30
卷期号:36 (2): 32-38
被引量:1
标识
DOI:10.11627/jkise.2013.36.2.32
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