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作者
G. Ghibaudo,
F. Balestra
出处
期刊：
Microelectronics Reliability
[Elsevier]
日期：1997-09-01
卷期号：37 (9): 1353-1366
被引量：72
标识
DOI：10.1016/s0026-2714(97)00007-3
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