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作者
Alexandros Charogiannis,Fabian Denner,Berend van Wachem,Serafim Kalliadasis,Benoît Scheid,Christos N. Markides
标识
DOI：10.1103/physrevfluids.3.114002
摘要
Space/time-resolved film-thickness data are presented for liquid films flowing under an inverted planar substrate. Different flow regimes are observed depending on the inclination, liquid properties, and Reynolds number, with waves characterized by pronounced three-dimensionality and rivulet formation.
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