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领域(数学)
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纯数学
作者
Shaoying Li,Na Chen,Zhenmin Liu,Shupeng Liu,Yana Shang,Yong Liu,Zhenyi Chen,Fufei Pang,Tingyun Wang
标识
DOI:10.1364/ofs.2023.w6.2
摘要
This study proposes an optical scanning thermal imaging method for micro-nanoscale thermal characterization utilizing a near-field fiber optic probe with CdSe quantum dots, validated through in-situ measurement of bond wire temperature distribution.
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