Engineering Atomic‐Scale Patterning and Resistive Switching in 2D Crystals and Application in Image Processing

材料科学 原子单位 记忆电阻器 超晶格 光电子学 电介质 纳米技术 联轴节(管道) 电子工程 复合材料 物理 量子力学 工程类
作者
Lei Yin,Ruiqing Cheng,Shurong Pan,Wenqi Xiong,Sheng Chang,Baoxing Zhai,Yao Wen,Yuchen Cai,Yuzheng Guo,Marshet Getaye Sendeku,Jian Jiang,Weitu Liao,Sheng Wang,Jun He
出处
期刊:Advanced Materials [Wiley]
卷期号:35 (51) 被引量:3
标识
DOI:10.1002/adma.202306850
摘要

The ultrathin thickness of 2D layered materials affords the control of their properties through defects, surface modification, and electrostatic fields more efficiently compared with bulk architecture. In particular, patterning design, such as moiré superlattice patterns and spatially periodic dielectric structures, are demonstrated to possess the ability to precisely control the local atomic and electronic environment at large scale, thus providing extra degrees of freedom to realize tailored material properties and device functionality. Here, the scalable atomic-scale patterning in superionic cuprous telluride by using the bonding difference at nonequivalent copper sites is reported. Moreover, benefitting from the natural coupling of ordered and disordered sublattices, controllable piezoelectricity-like multilevel switching and bipolar switching with the designed crystal structure and electrical contact is realized, and their application in image enhancement is demonstrated. This work extends the known classes of patternable crystals and atomic switching devices, and ushers in a frontier for image processing with memristors.
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