Au–InSe van der Waals Schottky junctions with ultralow reverse current and high photosensitivity

光敏性 范德瓦尔斯力 肖特基势垒 光电子学 材料科学 凝聚态物理 物理 分子 量子力学 二极管
作者
Siqi Hu,Shouxin Zhang,Xiaoguang Luo,Xutao Zhang,Tao Wang,Yingchun Cheng,Wanqi Jie,Jianlin Zhao,Ting Mei,Xuetao Gan
出处
期刊:Nanoscale [The Royal Society of Chemistry]
卷期号:12 (6): 4094-4100 被引量:36
标识
DOI:10.1039/c9nr08791e
摘要

The Schottky junction, composed of a rectifying metal-semiconductor interface, is an essential component for microelectronic and optoelectronic devices. However, due to the considerable reverse tunneling current, typical Schottky junctions cannot be widely applied in devices requiring high signal-to-noise ratios, such as photodetectors with high detectivity. Here, a van der Waals (vdW) Schottky junction is constructed by mechanically stacking a gold (Au) electrode onto a multilayer indium selenide (InSe) nanosheet, which shows an ultralow reverse current in sub-picoamperes and an excellent rectification ratio exceeding 106 at room temperature. The reverse current, which corresponds to the thermionic emission transport model, is independent of the applied reverse bias. As a result, the Au-InSe vdW Schottky junction device can function as an ultrasensitive photodetector with a photodetectivity over 2.4 × 1015 Jones, corresponding to a photoresponsivity of 853 A W-1 and a light on/off ratio exceeding 1 × 107. The work offers an idea for investigating electronic and optoelectronic devices with high signal-to-noise ratios based on vdW Schottky junctions.

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