Fracture surface analysis and quantitative characterization of gallium arsenide III-V semiconductors using fractography

断口学 砷化镓 表征(材料科学) 材料科学 断裂(地质) 半导体 光电子学 复合材料 法律工程学 纳米技术 工程类
作者
Anthony Moulins,Roberto Dugnani,Ricardo J. Zednik
出处
期刊:Engineering Failure Analysis [Elsevier]
卷期号:123: 105313-105313 被引量:11
标识
DOI:10.1016/j.engfailanal.2021.105313

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