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作者
Jinghua Guo,Per‐Anders Glans,Yi‐sheng Liu,C. L. Chang
出处
期刊:John Wiley & Sons, Ltd eBooks
[Wiley]
日期:2010-03-02
卷期号:: 123-142
被引量:4
标识
DOI:10.1002/9780470823996.ch5
摘要
In this chapter, we introduce the basics of soft x-ray absorption (XAS) and emission spectroscopy (XES), and resonant inelastic soft x-ray scattering (RIXS) followed by description of instrumentation including beamline, ensdtation, and spectrometer. Chemical cells are designed for in-situ electronic structure study of samples in gas or liquid environment. The application of XAS, XES, and RIXS on TiO2 crystals of rutile and anatase phases have yielded characteristic fingerprints that provide the information on geometric structure, bandgap, doping effects. A number of in-situ electronic structure studies are also addressed.
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