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作者
Xiang Wang,Anyang Cui,Fangfang Chen,Liping Xu,Zhigao Hu,Kai Jiang,Liyan Shang,Junhao Chu
出处
期刊:Small
[Wiley]
日期:2019-11-01
卷期号:15 (46)
标识
DOI:10.1002/smll.201970250
摘要
The piezoelectric property of van der Waals materials is difficult to be collected and quantified experimentally. In article number 1903106, Zhigao Hu and co-workers present an efficient scanning probe method to quantify the effective out-of-plane electromechanical coupling response on 2D layered materials including MoS2 and InSe by a free-standing designation.
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