Enhancing the Emission Rate of the Inherent Silicon‐Vacancy Center Using Optimized Multipolar Moments in a Silicon Carbide Metasurface

碳化硅 共发射极 光子 材料科学 空位缺陷 光电子学 激发态 波长 单光子源 光学 原子物理学 物理 凝聚态物理 冶金
作者
Vivek Vashist,Megha Khokhar,Faraz Ahmed Inam,Rajesh V. Nair
出处
期刊:Advanced quantum technologies [Wiley]
卷期号:6 (11) 被引量:2
标识
DOI:10.1002/qute.202300123
摘要

Abstract Silicon carbide (SiC) hosts various color centers with emission lines from visible to near‐infrared, with promising applications in quantum communication. Metasurfaces made using SiC can enhance the emission rate of inherent color centers to achieve on‐demand single photon emission with a high emission rate. This is possible by engineering the amplitude and phase of the excited multipolar scattering moments in metasurfaces. The numerical simulations and analytical calculations are used to study the emission rate enhancement from an embedded single silicon vacancy () center in SiC metasurface. The optimized metasurface balances multipolar moments at the zero‐phonon line wavelength of 862 nm with 40 times field intensity confinement. The confinement provides substantial emission rate enhancement for the center, making it a bright single photon emitter at 862 nm. The significant emission enhancement offers new insights into the metasurface to achieve on‐demand single‐photon sources and efficient spin–photon interfaces.
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