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Breakdown characteristics in dielectric-confined microcavity discharge of plate electrodes

电介质 电极 电子 材料科学 蒙特卡罗方法 凝聚态物理 原子物理学 化学 物理 光电子学 物理化学 量子力学 统计 数学
作者
Wenjing Wang,Tianliang Zhang,Ruoyu Han,Feng He,Jiting Ouyang
出处
期刊:Journal of Physics D [IOP Publishing]
卷期号:56 (29): 295201-295201 被引量:1
标识
DOI:10.1088/1361-6463/acca8f
摘要

Abstract Breakdown characteristics in dielectric-confined microcavity discharge of plate-to-plate electrodes under DC voltage are investigated in this paper. Experimental and particle-in-cell/Monte Carlo code simulated results show that the breakdown characteristic curve (the relation between the breakdown voltage V br and the product pd of gas pressure p and electrode gap d or the V br – pd curve) with a microcavity effect will deviate from the traditional Paschen curve, and seed electron adsorption by the dielectric wall is considered as the deviation mechanism. A smaller microcavity height will enhance this deviation. Based on the extent of deviation, there exist two critical microcavity heights, h cr1 and h cr2 , for the breakdown characteristic curve. When the cavity height h is larger than h cr1 , the V br – pd curve conforms to Paschen’s law due to the minor adsorbed electrons. When h < h cr1 , the V br values in the V br – pd curve begin to increase overall, compared to those in the Paschen curve. Specifically, when h cr2 < h < h cr1 , the V br –1/ h curve exhibits a positive linear relation; when h < h cr2 , V br increases sharply with 1/ h as a nonlinear relationship due to the massive adsorbed electrons. Additionally, the type of dielectric material used to construct the microcavity also has a significant impact on V br , which is related to the different electron adsorbility η of various dielectric walls. For deeper insight, a ‘microcavity effect’ analysis model was developed to discuss the modified V br – pd curve and provide the explanation for the critical values of microcavity heights and the influence of the dielectric material. Significant adsorption of charged particles (especially the seed electrons) by the dielectric wall will reduce the electron multiplication and further improve the breakdown voltage when the cavity height h is comparable to the product ηλ e (the dielectric electron adsorbility and electron mean free path). On this basis, the modified breakdown criterion considering the microcavity effect was derived. The analytical expressions of the two critical height values h cr1 and h cr2 ( h cr1 = 100 ηλ e , h cr2 = 10 ηλ e ) and the linear relation of V br –1/ h curve in h cr2 < h < h cr1 are presented quantitatively.
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