A CMOS Temperature Sensor With a Voltage-Calibrated Inaccuracy of $\pm$0.15$ ^{\circ}$C (3$\sigma$) From $-$55$^{\circ}$C to 125$^{\circ}$C

校准 CMOS芯片 缩放 电压 能量(信号处理) 消散 电气工程 西格玛 高效能源利用 计算机科学 物理 材料科学 光电子学 工程类 光学 量子力学 热力学 镜头(地质)
作者
Kamran Souri,Youngcheol Chae,Kofi A. A. Makinwa
出处
期刊:IEEE Journal of Solid-state Circuits [Institute of Electrical and Electronics Engineers]
卷期号:48 (1): 292-301 被引量:211
标识
DOI:10.1109/jssc.2012.2214831
摘要

This paper describes the design of a low power, energy-efficient CMOS smart temperature sensor intended for RFID temperature sensing. The BJT-based sensor employs an energy- efficient 2nd-order zoom ADC, which combines a coarse 5-bit SAR conversion with a fine 10-bit ΔΣ conversion. Moreover, a new integration scheme is proposed that halves the conversion time, while requiring no extra supply current. To meet the stringent cost constraints on RFID tags, a fast voltage calibration technique is used, which can be carried out in only 200 msec. After batch calibration and an individual room-temperature calibration, the sensor achieves an inaccuracy of ±0.15°C (3σ) from -55°C to 125°C . Over the same range, devices from a second lot achieved an inaccuracy of ±0.25°C (3σ) in both ceramic and plastic packages. The sensor occupies 0.08 mm 2 in a 0.16 μm CMOS process, draws 3.4 μA from a 1.5 V to 2 V supply, and achieves a resolution of 20 mK in a conversion time of 5.3 msec. This corresponds to a minimum energy dissipation of 27 nJ per conversion.
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