The Robust Ferroelectric and Electrical Response in 2D Bi2O2Se Semiconductor

材料科学 铁电性 半导体 光电子学 工程物理 凝聚态物理 纳米技术 电介质 物理
作者
Usman Khan,Runzhang Xu,Adeela Nairan,Mengjiao Han,Xusheng Wang,Lingan Kong,Junkuo Gao,Lei Tang
出处
期刊:Advanced Functional Materials [Wiley]
卷期号:34 (27) 被引量:21
标识
DOI:10.1002/adfm.202315522
摘要

Abstract The amelioration of atomically thin ferroelectric materials is imperative for next‐generation outperformed two‐dimensional (2D) electronics, which is elusive by their bulk counterparts. These remarkable materials’ ferroelectric and piezoelectric features are the fundamental urges in optoelectronics, electronics, and energy harvesting. In this work, 2D ferroelectric Bi 2 O 2 Se flakes have been synthesized using a modified chemical vapor deposition technique. The 6 nm thick Bi 2 O 2 Se flake provides a robust ferroelectric switching under an applied voltage of ±10 V by piezoresponse force microscopy, further confirmed by first principles. Leveraging the successful growth, the high‐quality Bi 2 O 2 Se flakes permit the fabrication of a field‐effect transistor (FET) with state‐of‐the‐art performance. The FET device rewards a high current on–off ratio of 10 8 and field effect mobility of almost 131 cm 2 V −1 s −1 , owing to the small carrier effective mass of 0.2 m 0 . Combined, the electric field‐induced local polarization of ferroelectric switching and unprecedented device performance of Bi 2 O 2 Se semiconductors are certified for their utilization in advanced nanoelectronics and miniaturization of multifunctional devices with multifunctionalities.
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