Near-zero-adhesion-enabled intact wafer-scale resist-transfer printing for high-fidelity nanofabrication on arbitrary substrates

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作者
Zhiwen Shu,Bo Feng,Peng Liu,Lei Chen,Huikang Liang,Yiqin Chen,Jingkun Yu,Huigao Duan
出处
期刊:International journal of extreme manufacturing [IOP Publishing]
卷期号:6 (1): 015102-015102
标识
DOI:10.1088/2631-7990/ad01fe
摘要

Abstract There is an urgent need for novel processes that can integrate different functional nanostructures onto specific substrates, so as to meet the fast-growing need for broad applications in nanoelectronics, nanophotonics, and flexible optoelectronics. Existing direct-lithography methods are difficult to use on flexible, nonplanar, and biocompatible surfaces. Therefore, this fabrication is usually accomplished by nanotransfer printing. However, large-scale integration of multiscale nanostructures with unconventional substrates remains challenging because fabrication yields and quality are often limited by the resolution, uniformity, adhesivity, and integrity of the nanostructures formed by direct transfer. Here, we proposed a resist-based transfer strategy enabled by near-zero adhesion, which was achieved by molecular modification to attain a critical surface energy interval. This approach enabled the intact transfer of wafer-scale, ultrathin-resist nanofilms onto arbitrary substrates with mitigated cracking and wrinkling, thereby facilitating the in situ fabrication of nanostructures for functional devices. Applying this approach, fabrication of three-dimensional-stacked multilayer structures with enhanced functionalities, nanoplasmonic structures with ∼10 nm resolution, and MoS 2 -based devices with excellent performance was demonstrated on specific substrates. These results collectively demonstrated the high stability, reliability, and throughput of our strategy for optical and electronic device applications.
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