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物理
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作者
Shekhar Guha,Jean Wei,Joel M. Murray
出处
期刊:Conference on Lasers and Electro-Optics
日期:2020-01-01
卷期号:94: SF2B.3-SF2B.3
被引量:1
标识
DOI:10.1364/cleo_si.2020.sf2b.3
摘要
Recent measurement of refractive indices of binary III-V semiconductors GaN, GaP, GaAs, GaSb, InAs and InSb over temperature range of 77 - 400 K and wavelength range spanning the transmission window of each will be presented.
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