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作者
Yoon‐Seok Lee,Yifu Huang,Yao‐Feng Chang,Sung Jin Yang,Nicholas D. Ignacio,Shanmukh Kutagulla,Sivasakthya Mohan,Sunghun Kim,Jungwoo Lee,Deji Akinwande,Sungjun Kim
出处
期刊:ACS Nano
[American Chemical Society]
日期:2024-05-20
卷期号:18 (22): 14327-14338
被引量:1
标识
DOI:10.1021/acsnano.4c00333
摘要
In this study, we investigate the coexistence of short- and long-term memory effects owing to the programmable retention characteristics of a two-dimensional Au/MoS
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