欧姆接触
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分子
图层(电子)
作者
Zeng-Lin Cao,Lin Zhu,K.L. Yao
标识
DOI:10.1021/acsami.4c00640
摘要
Achieving low-resistance Ohmic contacts with a vanishing Schottky barrier is crucial for enhancing the performance of two-dimensional (2D) field-effect transistors (FETs). In this paper, we present a theoretical investigation of VS
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