材料科学
拉伤
直线(几何图形)
薄膜
复合材料
工程物理
光电子学
纳米技术
工程类
几何学
数学
医学
内科学
作者
Jingting Yang,Chao Ma,Chen Ge,Qinghua Zhang,Jianyu Du,Jiankun Li,Heyi Huang,Meng He,Can Wang,Sheng Meng,Lin Gu,Huibin Lü,Guozhen Yang,Kuijuan Jin
摘要
We report the discovery of a new line defect, and the modification of electronic structures in strain engineered WO3 films.
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